Аналитика - научно-технический журнал

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Выпуск #6/2018

ЦКП НО "Арктика" - элемент будущей инновационной экономики

Качество на уровне мировых стандартов. Отечественный производитель - ООО "ФЕРОН"

27 Российская конференция по электронной микроскопии. Эаглянем в тайны микромира

Международная система единиц. Новая концепция определения эталонов

Аннотации статей

Table of Contents

Содержание

Metrology and Accreditation

Метрология и аккредитация

O. S. Shokhina, A. S. Sergeeva, M. P. Krasheninina
Experience of interlaboratory comparisons on determination of quality indicators for medicines and pharmaceutical substances

О. С. Шохина, А. С. Сергеева, М. П. Крашенинина
Опыт проведения межлабораторных сличительных испытаний по определению показателей качества лекарственных средств и фармацевтических субстанций

K. V. Chekirda
International Unit system based on fundamental physical constants

К. В. Чекирда
Международная система единиц, основанная на фундаментальных физических константах

Exhibitions and Conferences

Выставки и конференции

The conference Design laboratory space

Конференция "Дизайн лабораторного пространства"

A. N. Alyoshin
Analit – Aggregator of High-tech Equipment and Front-end Technologies

А. Н. Алёшин
Компания "Аналит" – агрегатор высокотехнологичного оборудования и новейших технологий

VI International Scientific Conference STRANN – Forum of leading specialists in nanotechnologies

VI Международная научная конференция STRANN – форум ведущих специалистов в области нанотехнологий

O. B. Mokhodoeva
V All-Russian Symposium Separation and Concentrating in Analytical Chemistry and Radiochemistry

О. Б. Моходоева
V Всероссийский симпозиум "Разделение и концентрирование в аналитической химии и радиохимии"

A. S. Avilov, A. L. Vasil’ev, V. V. Rodchenkova
27th Russian Conference on electron microscopy. 5th School for young scientists (RCEM-2018). On the state of electron microscopy methods in Russia and abroad

А. С. Авилов, А. Л. Васильев, В. В. Родченкова
27 Российская конференция по электронной микроскопии. 5-я Молодежная школа (РКЭМ-2018). О состоянии методов электронной микроскопии в России и за рубежом

Modern laboratory

Современная лаборатория

V. E. Grinberg
CCU SE Arktika – an element of the future innovative economy

В. Е. Гринберг
ЦКП НО "Арктика" – элемент будущей инновационной экономики

A. N. Alyoshin
Worldwide Quality Standards – Daily Routine of PHERON Quality Control Department

А. Н. Алёшин
Качество на уровне мировых стандартов – будни отдела контроля качества ООО "ФЕРОН"

OPTEC opens Demo & Consulting Centre in Moscow

Компания ОПТЭК открывает в Москве демонстрационный и консультационный центр

Analysis and control: methods, instruments, solutions

Анализ и контроль: методы, приборы, решения

K. Je. Yakovleva, V. V. Rodchenkova
Large insights into microorganisms. Nanoporous sequencing based on long reads

К. Э. Яковлева, В. В. Родченкова
Проникновение в самую сущность микроорганизмов. Нанопоровое секвенирование на основе длинных прочтений

Tomohiro Haruta
Comparison of 3D Imaging Methods in Electron Microscopy for Biomaterials

Томохиро Харута
Сравнение методов 3D-реконструкции в электронной микроскопии биоматериалов