Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "топологические изоляторы"

Аналитика #1/2017
М.Кузнецов, И.Огородников, Л.Яшина
Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и голография – новые методы 3D-визуализации атомной структуры поверхности

Рентгеновская фотоэлектронная дифракция (РФД) и голография (РФГ) – динамично развивающиеся методы, ориентированные на изучение атом- ной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, фор- мирующихся в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Возможности РФД и РФГ удалось значительно повысить за счет объединения их сильных сторон и совершенствования методологии структурного анализа поверхности. Обсуждаются примеры использования РФД и РФГ для структур- ного анализа поверхностей слоистых халькогенидов Bi2Se3 и Bi2Te3 – топологи- ческих изоляторов, важных материалов для спинтроники будущего. DOI: 10.22184/2227-572X.2017.32.1.76.87