Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега - растровая электронная микроскопия

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "растровая электронная микроскопия"

Наноиндустрия #7-8/2024
А.Р.Сиразеева, А.Р.Хасанова, О.Б.Кулясова, Д.А.Аксенов, Б.О.Большаков
ВЛИЯНИЕ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ НА СТРУКТУРУ И СВОЙСТВА БИОРЕЗОРБИРУЕМОГО ЦИНКОВОГО СПЛАВА Zn-0.8Li-0.1Mn

В данной работе представлены результаты исследования влияния пластической деформации на структуру и свойства цинкового сплава Zn-0.8Li-0.1Mn. Эволюция структуры охарактеризована методами растровой электронной микроскопии (РЭМ) и EBSD. Обсуждаются диаграммы "напряжение – относительное удлинение", полученные при одноосном растяжении.

Аналитика #3/2015
В.Гелевер, Е.Усачев, А.Манушкин
Гибридный наноскоп – универсальный прибор для лабораторий разного профиля

Развитие, применение и распространение нанотехнологий приводит к росту числа наноструктурированных объектов, которые необходимо исследовать с применением микроскопических, спектроскопических, дифрактометрических и других методов. Для изучения структуры и состава вещества используются различные виды электронных, зондовых и оптических микроскопов. В МГТУ МИРЭА разработан гибридный прибор – наноскоп, предназначенный для комплексных исследований небольших наноструктурных объектов.

Наноиндустрия #2/2015
О.Холлрихтер, У.Шмидт, С.Бройнингер
Комбинация конфокальной рамановской и растровой электронной микроскопии

Все более широкое применение в исследованиях находят комбинации РЭМ и рамановской спектроскопии (РС). Последняя дает возможность изучать молекулярную структуру вещества. DOI:10.22184/1993-8578.2015.56.2.50.57

Наноиндустрия #1/2015
В.Гелевер, Е.Усачев, А.Манушкин
Нанодиагностический учебно-научный класс на базе гибридных наноскопов

В МГТУ МИРЭА разработан гибридный прибор – наноскоп, предназначенный для исследований небольших наноструктурных объектов с использованием различных методов микроскопии и спектроскопии. DOI:10.22184/1993-8578.2015.55.1.60.63

Наноиндустрия #3/2011
С.Хохлявин
Стандарты для измерений и характеристики свойств нанообъектов

Спектр разрабатываемых стандартов ИСО, предлагающих на базе существующих технологий унифицированные на международном уровне подходы к измерениям и характеристике свойств нанообъектов, достаточно широк. Эти стандарты призваны устранить барьеры на пути коммерциализации нанотехнологий и способствовать переводу созданных разработок на стадию массового изготовления новых объектов.