Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Статьи

Аналитика #6/2024

Новости // все новости

23.04.2025

18.04.2025

События // все события

до 25.04.2025

c 19.05.2025 до 23.05.2025

Тег "nanoscale structures"

Аналитика #1/2019
А. С. Авилов, А. Л. Васильев
27-я Российская конференция по электронной микроскопии. 5-я Молодежная школа РКЭМ – 2018

Продолжен рассказ о 27-й Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ) «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нанобиоматериалов», которая проходила с 26 по 30 августа 2018 года в Черноголовке (Московская область). В рамках конференции прошла 5-я молодежная школа, в которой приняли участие приглашенные докладчики и их молодые коллеги. На школе прозвучали доклады, посвященные различным методам электронной микроскопии и микроанализа, а также их применению в различных областях: медицине, биологии, материаловедении, в исследованиях предметов культурного наследия и т. д. DOI: 10.22184/2227-572X.2019.09.1.36.39

Аналитика #6/2018
А. С. Авилов, А. Л. Васильев, В. В. Родченкова
27 Российская конференция по электронной микроскопии. 5-я Молодежная школа (РКЭМ-2018). О состоянии методов электронной микроскопии в России и за рубежом

С 26 по 30 августа 2018 года в Черноголовке при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований состоялась 27 Российская конференция по электронной микроскопии РКЭМ-2018 "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нано-биоматериалов". В рамках конференции прошла 5-я Школа молодых ученых. Национальные конференции по электронной микроскопии проводятся Научным cоветом по электронной микроскопии РАН при участии Института кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН и Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН на протяжении более чем 50 лет. DOI: 10.22184/2227-572X.2018.08.6.516.524