Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "electron probe microanalysis"

Аналитика #2/2020
М. Н. Филиппов
«Безэталонный» рентгеноспектральный анализ: реальность или миф?

DOI: 10.22184/2227-572X.2020.10.2.124.130 Статья основана на материале пленарного доклада автора на III Всероссийской конференции по аналитической спектроскопии. Сегодня значительная часть электронных микроскопов оборудована энергодисперсионными рентгеновскими спектрометрами (ЭДС) с соответствующим математическим обеспечением. В результате этого возникает дополнительная возможность – проведение ЭЗМА исследуемого объекта. Руководства по использованию этих спектрометров предлагают достаточно простой и быстрый алгоритм проведения анализа обычно без использования каких-либо образцов сравнения (ОС). Такой подход получил название «безэталонный анализ» (БА). Обсуждается развитие БА и проблема правильности определений.