Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "дифрактометр"

Аналитика #1/2022
В. Б. Барановская, М. С. Доронина
Приборная база ИОНХ РАН для инновационных материалов и технологий. Репортаж из Центра коллективного пользования

10.22184/2227-572X.2022.12.1.14.32 Центр коллективного пользования физическими методами исследования веществ и материалов создан на базе одного из ведущих научно-исследовательских институтов страны с богатейшей историей и огромным потенциалом развития. ИОНХ РАН является институтом первой (высшей) категории по рейтингу Минобрнауки РФ. Входит в международный академический рейтинг ведущих научных институтов и вузов CWUR (Center for Word University Rankings). Находится в тройке лидеров в рейтинге публикационной активности научных организаций России по химии за период 2018-2021 годов по данным международной базы Scopus. Состоит в Ассоциации аналитических центров России «Аналитика».

Аналитика #1/2021
А. Е. Крылова, О. А. Лавреньева
Кафедра физического материаловедения НИТУ «МИСиС»: наша стратегия – взаимодействие науки и высоких технологий

DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.1.16.21 Университетская наука традиционно выполняет несколько важнейших функций. Благодаря ей проходят профессиональную подготовку студенты и аспиранты, получая ценный опыт работы под руководством специалистов высокой квалификации – доцентов и профессоров. Совместная работа дает хорошие научные результаты, которые в дальнейшем воплощаются в новые технологии. Залог успешной работы учебно-научного коллектива состоит не только в профессионализме сотрудников, но и в том, какое оборудование есть в их распоряжении и насколько оно соответствует современным требованиям. Об истории создания, сегодняшнем дне, перспективах развития, а также направлениях исследований и оснащенности лабораторий нам рассказали руководители и сотрудники кафедры.