Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "раман"

Наноиндустрия #6/2012
У.Шмидт, Т.Диинг, В.Ибах, О.Холлрихер
Исследование графена: конфокальная рамановская и атомно-силовая микроскопии

В данной работе представлены результаты исследования одно- атомарного графена с помощью конфокальной рамановской микроскопии и атомно-силовой микроскопии (АСМ). Такая комбинация позволяет обнаружить двухмерные листы ангстремной толщины, точно определить количество графеновых чешуек образующих слои, идентифицировать химически различные материалы или различие свойств внутри одного и того же материала, тем самым получить полную топографическую и химическую структуру графена.

Аналитика #3/2012
К.Понкратов
Конфокальный рамановский микроспектрометр Renishaw inVia – многофункциональный аналитический инструмент исследования

Конфокальный рамановский микроспектрометр inVia производства компании Renishaw (Великобритания) – это аналитический инструмент исследовательского класса, при разработке которого использованы уникальные технические решения, впоследствии запатентованные.