Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "sample"

Аналитика #2/2023
Н. И. Лукьянчикова
Записи по обращению образца в лаборатории

https://doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.2.132.138 В статье рассматривается ведение технических записей по обращению образца в лаборатории. Представлены примеры форм лабораторных журналов регистрации, контроля условий окружающей среды при хранении и кондиционировании, перемещения (передачи), возврата, хранения и списания (утилизации) образцов.

Наноиндустрия #7/2012
К.Балиж, С.Пушко, А.Мальцев
СЗМ-диагностика поверхности материалов. Моделирование изображений дефектов

Одна из актуальных задач при исследовании поверхностной структуры конструкционных материалов – вычисление числовых характеристик поверхностей образцов сталей и сплавов с использованием сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В статье рассматриваются результаты создания методики СЗМ-диагностики конструкционных материалов промышленного оборудования с помощью комплекса на базе АСМ.