Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "“chrom&spec”"

Аналитика #2/2013
Ю.Каламбет, С. Мальцев, Ю.Козьмин
"МультиХром" и метрология: 25 лет вместе

Подводятся итоги 25-ти летней работы фирмы "Амперсенд" с точки зрения метрологии. Обобщен опыт работ по разработке программно-аппаратных комплексов для автоматизации хроматографического анализа "МультиХром". Рассмотрены основные источники ошибок измерения, способы подавления помех и их влияние на погрешность измерения. Обсуждаются решения, имеющие непосредственное отношение к метрологии: фильрация шумов, оценка параметров хроматографического пика, оценка характеристик и разделение перекрывающихся пиков, градуировка методами внутреннего и внешнего стандартов, расчет доверительных интервалов. Обсуждены вопросы валидации методик, программного обеспечения и оборудования.