Тег "рамановская спектроскопия"
Фотоника #5/2019 В. Б. Ромашова , Д. С. Шаймадиева, Н. В. Буров Исследование параметров герметичных углеродных покрытий оптических волокон, использующихся в агрессивных средах
Герметичные углеродные покрытия различной толщины в диапазоне от 1 до 100 нм для оптических волокон характеризуются при помощи конфокальной Рамановской спектроскопии и атомно-силовой микроскопии. В ходе исследований были получены стандартные Рамановские спектры дальнего поля в области от 1000 до 2000 см−1 с использованием пяти отдельных компонентов: разные виды графитоподобных и неупорядоченных фаз. Предложен новый спектроскопический индикатор, который обеспечивает измерение доли сажи в углеродистых материалах. Результаты исследований методом комбинационного рассеяния TERS (tip-enhanced Raman scattering) подтвердили сложную структуру Рамановской D полосы первого порядка, отнесенной к неупорядоченным колебаниям графитовой решетки. С помощью данного метода было доказано, что в защитных покрытиях образуются такие углеродные аллотропы, как углеродные нанотрубки. DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2019.13.5.476.484
Наноиндустрия #2/2017 В.Быков, В.Поляков Новые решения для материаловедения, комплексного исследования и контроля материалов и структур с высоким пространственным разрешением
Рассмотрены основные этапы развития систем сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии нанометрового пространственного разрешения российского производства. Приводятся новые конструкции приборов группы компаний NT-MDT Spectrum Instruments, новые разработки микромеханических систем для СЗМ. Проанализированы тенденции их развития с учетом особенностей России во взаимосвязи с мировым рынком научного приборостроения.
Аналитика #6/2016 С.Жохов, И.Шахнович analytica 2016 – парад мировых премьер
Международная выставка analytica в Мюнхене – крупнейший межотраслевой форум в области химии, наук о жизни, нанотехнологий, оснащения современных лабораторий. Краткий обзор analytica 2016 посвящен оборудованию и решениям, востребованным в биоаналитике и фармацевтике: системам рамановской микроскопии и ультра-ВЭЖХ, анализаторам частиц и клеточных культур, мини-реакторам и микропланшетным ридерам.
Наноиндустрия #6/2015 T.Диинг, У.Шмидт, С.Бройнингер Ближнепольная рамановская спектроскопия: преодоление дифракционного предела
Для получения информации о рамановских спектрах с разрешением ниже дифракционного предела оптимальны микроскопы, объединяющие преимущества различных технологий измерения. DOI:10.22184/1993-8578.2015.60.6.30.33
Наноиндустрия #2/2015 О.Холлрихтер, У.Шмидт, С.Бройнингер Комбинация конфокальной рамановской и растровой электронной микроскопии
Все более широкое применение в исследованиях находят комбинации РЭМ и рамановской спектроскопии (РС). Последняя дает возможность изучать молекулярную структуру вещества. DOI:10.22184/1993-8578.2015.56.2.50.57
Аналитика #2/2015 К.Понкратов Контроль качества лекарственных препаратов с помощью рамановского спектрометра Renishaw inVia
В 2020 году в России будут производить каждое второе лекарство из тех, что продается в нашей стране, — такую цель поставило перед фармацевтическим рынком Министерство промышленности и торговли. Пока программа импортозамещения не достигла столь значимых результатов: сейчас зарубежные препараты занимают около 80%. Для того чтобы наладить производство в соответствии с требованиями GMP, необходимо создать соответствующие условия. Важнейшая стадия производственного цикла – контроль качества продукции. И здесь незаменим не требующий пробоподготовки неконтактный и неразрушающий метод рамановской спектроскопии. Рамановский эффект высоко чувствителен к небольшим различиям химического состава и кристаллографической структуры.
Наноиндустрия #7/2013 Th.Dieingv Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы
Требования к надежности электронных компонентов высоки, потому важно получение детальных сведений о свойствах кристаллических структур полупроводниковых материалов. Обычно для определения толщины пленок, параметров кристаллической решетки и испытаний деформированных состояний слоистых структур применяется рентгеновская дифракция, а для исследования поверхностей и дефектов конструкции, позволяющих установить хронологию роста кристаллов, – растровая электронная микроскопия. В статье представлены результаты исследований методом конфокальной рамановской 3D-визуализации, который позволяет выявлять деформацию и изменения в структуре кристаллической решетки.
Аналитика #5/2013 К. Понкратов Исследование полупроводниковых материалов методом конфокальной рамановской микроскопии
Компания Renishaw (Великобритания) – мировой лидер в области промышленной метрологии, контроля перемещений, спектроскопии и прецизионной обработки. Конфокальный рамановский микроскоп inVia, выпускаемый компанией, объединяет в себе все новейшие технологии в полном соответствии с девизом компании – Apply Innovation. В статье приводятся примеры использования микроскопа для исследований качества пластин полупроводников.
eng
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
