Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "scanning electron microscope"

Аналитика #1/2022
В. Б. Барановская, М. С. Доронина
Приборная база ИОНХ РАН для инновационных материалов и технологий. Репортаж из Центра коллективного пользования

10.22184/2227-572X.2022.12.1.14.32 Центр коллективного пользования физическими методами исследования веществ и материалов создан на базе одного из ведущих научно-исследовательских институтов страны с богатейшей историей и огромным потенциалом развития. ИОНХ РАН является институтом первой (высшей) категории по рейтингу Минобрнауки РФ. Входит в международный академический рейтинг ведущих научных институтов и вузов CWUR (Center for Word University Rankings). Находится в тройке лидеров в рейтинге публикационной активности научных организаций России по химии за период 2018-2021 годов по данным международной базы Scopus. Состоит в Ассоциации аналитических центров России «Аналитика».

Наноиндустрия #1/2014
М.Фадеев
Решения для высококачественного анализа микро- и наноструктур

Необходимым условием для качественного анализа микро- и наноструктур является правильная подготовка образцов. Проблема актуальна во многих высокотехнологичных областях: в полупроводниковом производстве, при изготовлении МЭМС и в научных исследованиях.