Тег "electron microscope"
Аналитика #2/2020 М. Н. Филиппов «Безэталонный» рентгеноспектральный анализ: реальность или миф?
DOI: 10.22184/2227-572X.2020.10.2.124.130 Статья основана на материале пленарного доклада автора на III Всероссийской конференции по аналитической спектроскопии. Сегодня значительная часть электронных микроскопов оборудована энергодисперсионными рентгеновскими спектрометрами (ЭДС) с соответствующим математическим обеспечением. В результате этого возникает дополнительная возможность – проведение ЭЗМА исследуемого объекта. Руководства по использованию этих спектрометров предлагают достаточно простой и быстрый алгоритм проведения анализа обычно без использования каких-либо образцов сравнения (ОС). Такой подход получил название «безэталонный анализ» (БА). Обсуждается развитие БА и проблема правильности определений.
Аналитика #4/2018 Osamu Terasaki, Yanhang Ma, Yuusuke Sakuda, Hideyuki Takahashi, Kenichi Tsutsumi, Shunsuke Asahina, Masato Kudo, Robert W.Corker Оценка и структурный анализ наноматериалов на сканирующем электронном микроскопе с высоким пространственным разрешением
В сканирующей электронной микроскопии эмиттер испускает пучок электронов, фокусируе- мый электромагнитными линзами в тончайший электронный луч (зонд), который в процессе растрового сканирования облучает поверхность образца. Сигналы генерируются в виде вторичных иотраженных электронов, а также характеристического рентгеновского излучения. Сканирование с нанометровым пространственным разрешением позволяет получать инфор- мацию отопографии поверхности образца, ее составе, кристаллической структуре и химиче- ских связях. Уменьшая энергию первичных электронов, можно минимизировать повреждения образца в результате облучения, а также повысить качество изображения диэлектрических образцов с возможностью выборочного получения информации о поверхности. УДК 53.086; ВАК 05.11.01 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.41.4.380.383
Аналитика #1/2018 Р.Рамлау, Ю.Грин, Х.Савада Микроскопия интерметаллических клатратов с атомным разрешением
Описана установка электронного микроскопа Grand ARM с системой двойной коррекции аберраций в режимах STEM и TEM, которая открыла новые горизонты возможностей для изучения множества интерметаллических соединений с очень сложной, но красивой структурой. Интерметаллические клатраты являются ярким примером таких соединений и прекрасным объектом для исследований с максимальным разрешением. Первые результаты получены для боросилицида калия со структурой типа клатрат-I. УДК 620.187; ВАК 01.04.18 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.38.1.58.62
Наноиндустрия #5/2015 А.Потемкин, П.Лускинович, В.Жаботинский Стандарты нано- и пикометрового диапазонов на основе мер перемещения
На основе монокристаллических материалов с обратным пьезоэффектом разработаны меры перемещения нано- и пикометрового диапазонов, которые могут применяться для калибровки сканирующих зондовых и электронных микроскопов. Измерения величин перемещений мер производилось оптическими интерферометрами на основе лазеров со стабилизацией частоты излучения брэгговской и цезиевой ячейками. Меры перемещения и интерферометры могут использоваться в качестве манипуляторов и сенсоров в технологическом оборудовании и измерительных приборах, а также при проведении лабораторных работ по наноматериалам, наномеханике и нанометрологии. DOI:10.22184/1993-8578.2015.59.5.74.80
Наноиндустрия #4/2014 Д.Гудилин Электронная микроскопия в научных исследованиях и образовании
Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" уже несколько десятилетий реализует исследовательские программы в области нанотехнологий и готовит специалистов, в том числе для наноиндустрии. Неслучайно именно нанотехнологии и новые материалы обозначены как одна из приоритетных тематик в Программе развития университета на 2009–2017 годы. Большое внимание в университете уделяется улучшению технического оснащения научной и учебной деятельности, в частности создаются новые лаборатории. Несколько таких проектов выполнены в сотрудничестве с компанией Tokyo-Boeki.
eng
