Аналитика - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 2227-572X
ISSN 2687-1351 (online)

Книги по аналитике

Тег "icp-aes"

Аналитика #3/2024
М. И. Мельник
Новый подход к повышению точности анализа проб методом ИСП-АЭС при разведке, добыче и переработке твердых полезных ископаемых

*Надежность оценки содержания благородных металлов в материалах составляет едва ли не основную проблему технико-экономических расчетов, предполагаемых к разработке проектов, действующих технологий и спорных ситуаций в межотраслевых отношениях при производстве конечных продуктов. Одним из важных и широко применяемых методов для геохимического анализа горных пород, руд и продуктов их переработки является атомно-эмиссионный метод с индуктивно связанной плазмой (ИСП-АЭС). В статье представлены революционные технологии и программные продукты, реализованные в новых моделях Agilent 5800 и 5900 ИСП-АЭС, которые обеспечивают абсолютно новый подход к повышению точности анализа проб при разведке, добыче и переработке твердых полезных ископаемых. В процессе проведении анализа реальных проб на спектрометрах Agilent 5800 и 5900 ИСП-АЭС с помощью интеллектуального программного пакета IntelliQuant проводится быстрый сбор полуколичественных данных для всех элементов по всему спектральному диапазону для каждого образца и предоставляется исчерпывающая информация о пробе. После завершения исследования полного спектра каждой пробы инструмент IntelliQuant проверяет данные и автоматически определяет оптимальную длину волны, которая обеспечит лучший результат для каждого элемента.

Аналитика #2/2016
Д.Коркина, Ю.Кларк-Карская, А.Иванова, А.Захарова, А.Кузин, И.Гринштейн
Чистое рабочее место – комплексное решение проблемы загрязнений проб при проведении следового элементного анализа

Проблема загрязнения аналитической пробы из среды лаборатории – одна из основных при проведении следового элементного анализа на уровне десятков мкг/л и ниже. Для распространенных элементов этот фактор становится определяющим, так как их фоновые содержания могут быть очень велики, что в конечном счете, приводит к серьезным ошибкам определения концентрации. В статье описана разработка компании "Аналит Продактс" – "чистое рабочее место" для проведения элементного анализа. Приведена оценка его эффективности для снижения вероятности загрязнения анализируемых растворов из окружающей среды лаборатории. На примере широко распространенных элементов Al, Ca, Fe, Mg, Na, Si и Zn доказано уменьшение случайной и систематической ошибок анализа. Измерения проводили методами атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой и атомно-абсорбционной спектроскопии с электротермической атомизацией.